薄膜測(cè)厚儀廠家  機(jī)械接觸式 0.1μm精度 采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，采用光柵傳感器，符合多項(xiàng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，廣泛應(yīng)用于塑料薄膜、薄片、紙張、橡膠、電池隔膜、箔片、無(wú)紡布、土工布、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

測(cè)厚儀

測(cè)厚儀THK-02主要參數(shù)

測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6mm、0～12mm（選配）

分辨率：0.1μm

均勻性：0.3μm

測(cè)試速度：1～25次/min

測(cè)量頭平行度：±2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）

重復(fù)性：0.3μm

測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；

接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制

電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

約凈重：30Kg

測(cè)試原理

將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

薄膜測(cè)厚儀廠家  機(jī)械接觸式 0.1μm精度 測(cè)試應(yīng)用:

一、基礎(chǔ)應(yīng)用

薄膜、薄片、隔膜：適用于薄膜、薄片、隔膜的厚度測(cè)試

紙張、紙板：適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試

箔片、硅片：適用于箔片、硅片的厚度測(cè)試

金屬片：適用于金屬片的厚度測(cè)試

紡織材料：適用于紡織材料的厚度測(cè)試

固體電絕緣體：適用于固體電絕緣體的厚度測(cè)試

無(wú)紡布材料：適用于無(wú)紡布材料的厚度測(cè)試，如尿不濕、衛(wèi)生巾片材的厚度測(cè)試

二、擴(kuò)展應(yīng)用

量程擴(kuò)展至5mm，10mm：適用于片材、板材的厚度測(cè)試

曲面測(cè)量頭：適用于特殊要求的厚度測(cè)試

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、液晶觸摸屏、電源線、標(biāo)準(zhǔn)量塊

選配件：非標(biāo)測(cè)量頭